光伏組件常見問題及檢測方法
熱斑形成原因及檢測方法
光伏組件熱斑是指組件在陽光照射下,由于部分電池片受到遮擋無法工作,使得被意蓋的部分升溫遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于未被遮蓋部分,純水設(shè)備致使溫度過高出現(xiàn)燒壞的暗斑。
光伏組件熱斑的形成主要由兩個內(nèi)在因素構(gòu)成:內(nèi)阻和電池片自身暗電流。
熱斑耐久試驗(yàn)是為確定太陽電池組件承受熱斑加熱效應(yīng)能力的檢測試驗(yàn)。通過合理的時間和過程,對太陽電池組件進(jìn)行檢測,用以表明太陽電池能夠在規(guī)定的條件下長期使用。
熱斑檢測采用紅外線熱像儀進(jìn)行檢測。紅外線熱像儀可利用熱成像技術(shù),以可見熱圖顯示被測目標(biāo)溫度及其分布。
隱裂形成原因及檢測方法
隱裂是指電池片中出現(xiàn)細(xì)小裂紋,電池片的隱裂會加速電池片功率衰減,影響組件的正常使用壽命,同時電池片的隱裂會在機(jī)械載荷下擴(kuò)大,有可能導(dǎo)致開路性破壞。隱裂還可能會導(dǎo)致熱斑效應(yīng)。純水設(shè)備隱裂的產(chǎn)生是由于多方面原因共同作用造成的,組件受力不均勻,或運(yùn)輸過程中劇烈的抖動都有可能造成電池片的隱裂。
光伏組件在出廠前會進(jìn)行EL成像檢測,所使用的儀器為EL檢測儀。該儀器利用晶體硅的電致發(fā)光原理,利用高分辨率的CCD 相機(jī)拍攝組件的近紅外圖像,獲取并判定組件的缺陷。EL檢測儀能夠檢測太陽能電池組件有無隱裂、碎片、虛焊、斷柵及不同轉(zhuǎn)換效率單片電池異常現(xiàn)象。
功率衰減分類及檢測方法
光伏組件功率衰減是指隨著光照時間的增長,組件輸出功率逐漸下降的現(xiàn)象。光伏組件的功率衰減現(xiàn)象大致可分為三類:第一類,由于破壞性因素導(dǎo)致的組件功率衰減;第二類,組件初始的光致衰減;第三類,組件的老化衰減。其中,第一類是在光伏組件安裝過程中可控制的衰減,如加強(qiáng)光伏組件卸車、運(yùn)輸、安裝質(zhì)量控制,可降低組件電池片隱裂、碎裂出現(xiàn)的概率等。第二類、第三類是光伏組件生產(chǎn)過程中亟須解決的工藝問題。光伏組件功率衰減測試可通過光伏組件I—U特性曲線測試儀完成。
1.黑心片(黑團(tuán)片)
①產(chǎn)生原因:在直拉硅棒生產(chǎn)過程中,晶體定向凝固時間縮短,熔體潛熱釋放與熱場溫度梯度失配,晶體生長速率加快,過大的熱應(yīng)力導(dǎo)致硅片內(nèi)部位錯缺陷。
②成像特點(diǎn):黑芯或黑團(tuán)片在EL成像圖中可以清晰地看到從電池片中心到邊緣逐漸變亮的同心圓,從而導(dǎo)致缺陷的部分在EL測試過程中表現(xiàn)為發(fā)光強(qiáng)度較弱或不發(fā)光,從而形成復(fù)合密集區(qū),在通電情況下電池片中心一圈呈現(xiàn)黑色區(qū)域。
③組件影響:組件出現(xiàn)此缺陷后,長時間運(yùn)行會造成熱擊穿;在使用組件測試儀測試組件/-U測試特性曲線時,測試曲線呈現(xiàn)臺階形狀;同時長時間運(yùn)行會導(dǎo)致組件功率下降。
2.短略黑片(非短路黑片)
①產(chǎn)生原因:組件單串焊接過程中造成的短路;組件層壓前,混入了低效電池片造成:硅片使用上錯用N型片,無PN結(jié),故式成像為全黑。
②成像特點(diǎn):組件某個位置出現(xiàn)一塊或多塊電池片呈現(xiàn)全黑現(xiàn)象。
③組件影響:會造成組件I—U測試曲線呈現(xiàn)臺階,組件功率和填充因子都會受到較大影響;使被短路的電池片不能對外提供功率,整塊組件輸出功率降低,I一U測試曲線量大功率下降。純水設(shè)備。杭州純化水設(shè)備,杭州GMP純化水設(shè)備。 半導(dǎo)體純水設(shè)備。
- 上一篇:超純水設(shè)備的電阻率受哪些因素影響 2023/1/2
- 下一篇:EDI超純水設(shè)備制取的純水電阻率會受哪些因素影響? 2022/12/16